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J異形RF測試插座

模擬RF測試芯片解決方案

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 高頻性能優(yōu)越

  • 適用于QFN，QFP，SO封裝類型

  • 適用于手測，機(jī)測，老化等多種測試方式

  • 自清潔設(shè)計，使用壽命長

J異形RF測試插座



電氣長度<1.3mm，射頻性能極佳
QFN，QFP，SO多種封裝
 >0.35mm 引腳間距
開爾文測試設(shè)計
出色的接觸電阻和電流承受能力
三溫測試能力(-55℃-150℃)

封裝類型

引腳類封裝：QFP， SO，其他0.4mm及以上引腳間距

無引腳封裝.：QFN，其他0.4mm及以上引腳間距

材料

Socket材料：Vespel SP-1，Plavis-N，MDS-100

彈簧材料：鈹銅及其他

機(jī)械性能

產(chǎn)品引腳間距：0.4mm

探針彈力：25g-50g

測試行程：0.25mm-0.35mm

電性能

接觸電阻：50mΩ

電流承載能力： 2A持續(xù)電流

頻寬：>16.5GHZ@-1dB 

電感：0.36nH

環(huán)境

溫度范圍：-55℃-150℃

可靠性

探針使用壽命：500K-1KK

測試插座使用壽命：>3KK

清潔頻率：100K-300K