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晶圓級探針座

P0.2mm以上晶元級別測試的低成本、高性能測試插座

-相比探針針卡有很大的成本優(yōu)勢

-適用P0.2mm WLCSP 產(chǎn)品

-適用手測、機(jī)測等多種測試方式

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產(chǎn)品介紹

FTD晶圓級探針座,適用P0.2mm以上的晶元封裝,具有良好適用壽命和較低的成本優(yōu)勢。

產(chǎn)品特點

-適用Pogo PIN作為接觸部件

-支持Kelvin測試

-出色的接觸電阻和電流承受能力

封裝類型

● WLCSP封裝

機(jī)械性能

● 產(chǎn)品引腳間距: 0.2mm 及以上

● 探針彈力: 15g -30g

● 測試行程:0.5mm -0.85mm


可靠性

● 探針使用壽命:250K

● 測試插座使用壽命: >5KK 

● 清潔頻率:50K


使用材料

● socket材料: 工程塑料

● 彈簧探針頭材料: 合金 

● 彈簧材料: 彈簧鋼


電性能

● 接觸電阻:80mΩ

● 電流承載能力:2.0A 持續(xù)電流


使用環(huán)境

●  溫度范圍: -55°C - 150°C

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