P0.2mm以上晶元級別測試的低成本、高性能測試插座
-相比探針針卡有很大的成本優(yōu)勢
-適用P0.2mm WLCSP 產(chǎn)品
-適用手測、機(jī)測等多種測試方式
FTD晶圓級探針座,適用P0.2mm以上的晶元封裝,具有良好適用壽命和較低的成本優(yōu)勢。
-適用Pogo PIN作為接觸部件
-支持Kelvin測試
-出色的接觸電阻和電流承受能力
● WLCSP封裝
● 產(chǎn)品引腳間距: 0.2mm 及以上
● 探針彈力: 15g -30g
● 測試行程:0.5mm -0.85mm
● 探針使用壽命:250K
● 測試插座使用壽命: >5KK
● 清潔頻率:50K
● socket材料: 工程塑料
● 彈簧探針頭材料: 合金
● 彈簧材料: 彈簧鋼
● 接觸電阻:80mΩ
● 電流承載能力:2.0A 持續(xù)電流
● 溫度范圍: -55°C - 150°C
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